QANTEK晶振,貼片晶振,QC32晶振,無源進(jìn)口晶振
頻率:10~60MHZ
尺寸:3.2*2.5mm
QANTEK晶振的供應(yīng)渠道組織高效實(shí)用。所有的銷售,工程和管理職能都在Ft。美國佛羅里達(dá)州勞德代爾市。亞洲,歐洲和中東國家的直接產(chǎn)品來自位于德國和香港的三個(gè)分銷中心之一。所有北美(包括加拿大)和南美的貨物都由我們的Ft處理。除非客戶另有要求,否則佛羅里達(dá)州勞德代爾設(shè)施。銷售代表和分銷商戰(zhàn)略性地位于世界各地,并提供本地技術(shù)和產(chǎn)品支持。
QANTEK為每位客戶分配一位作為主要聯(lián)系人的客戶經(jīng)理,負(fù)責(zé)開發(fā)QANTEK資源的業(yè)務(wù)關(guān)系以滿足每位客戶的需求。通過此系統(tǒng),QANTEK可以保持強(qiáng)大的客戶關(guān)系,而響應(yīng)式服務(wù)和支持最重要。QANTEK希望成為您首選的進(jìn)口晶振頻率管理產(chǎn)品供應(yīng)商.進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振
QANTEK晶振,貼片晶振,QC32晶振,無源進(jìn)口晶振,超小型表面貼片型SMD晶振,最適合使用在汽車電子領(lǐng)域中,也是特別要求高可靠性的引擎控制用CPU的時(shí)鐘部分.低頻晶振可從10MHz起對(duì)應(yīng),小型,超薄型具備強(qiáng)防焊裂性,石英晶體在極端嚴(yán)酷的環(huán)境條件下也能發(fā)揮穩(wěn)定的起振特性,產(chǎn)品本身具有耐熱,耐振,耐撞擊等優(yōu)良的耐環(huán)境特性,滿足無鉛焊接以及高溫回流溫度曲線要求,符合AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn).
石英晶振曲率半徑加工技術(shù):晶振晶片在球筒倒邊加工時(shí)應(yīng)用到的加工技術(shù),主要是研究滿足不同曲率半徑石英晶振晶片設(shè)計(jì)可使用的方法。如:1、是指球面加工曲率半徑的工藝設(shè)計(jì)( a、球面的余弦磨量; b、球面的均勻磨量;c、球面加工曲率半徑的配合)2、在加工時(shí)球面測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)原則(曲率半徑公式的計(jì)算)。進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振
QANTEK晶振 |
單位 |
QC32晶振 |
石英晶振基本條件 |
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
f_nom |
10~60MHZ |
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
儲(chǔ)存溫度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-20°C~+125°C |
標(biāo)準(zhǔn)溫度 |
激勵(lì)功率 |
DL |
100μW Max. |
推薦:100μW |
頻率公差 |
f_— l |
±10~100× 10-6 |
+25°C 對(duì)于超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格說明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
-0.034× 10-6/-40°C~+85°C |
超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格請(qǐng)聯(lián)系我們. |
負(fù)載電容 |
CL |
7~32PF |
不同負(fù)載電容要求,請(qǐng)聯(lián)系我們. |
串聯(lián)電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C~+85°C, DL = 100μW |
頻率老化 |
f_age |
±3× 10-6/year Max. |
+25°C,第一年 |
這些晶振知識(shí)介紹是指,金屬面晶振在產(chǎn)品上線之后發(fā)生不良品或者沒反應(yīng)的情況下,自檢辦法。石英晶振如果在電路上的功能不規(guī)則或根本無法全部晶振找出得到了應(yīng)用操作,請(qǐng)使用以下的清單找出可能存在的問題。請(qǐng)按照確定的因素和可能的解決方案的說明。我們從晶振使用輸出無信號(hào)開始尋找相關(guān)問題。QANTEK晶振,貼片晶振,QC32晶振,無源進(jìn)口晶振
我們可以先使用示波器或者頻率計(jì)數(shù)器來檢查石英4腳晶體終端的兩個(gè)信號(hào),如果沒有信號(hào)輸出,請(qǐng)按照步驟1-1到1-4步執(zhí)行檢查。如果有從石英晶振(XOUT)的輸出端子的輸出信號(hào),而是從在終端(辛)輸出沒有信號(hào),請(qǐng)檢查石英晶振體以下step1-5到步驟1-6。
你可以先把晶體卸載下來并測(cè)試石英進(jìn)口晶振的頻率和負(fù)載電容,看看他們是否能振動(dòng),也可以使用專業(yè)的石英晶體測(cè)試儀器來檢測(cè) 。如果你沒法檢測(cè)你也可以將不良品發(fā)送給我公司,我們檢測(cè)分析之后告訴你結(jié)果。如果有下列情況發(fā)生,晶振不起振,首先你先查看你產(chǎn)品上使用的負(fù)載電容CL是否對(duì),是否跟你的線路相匹配,或者是晶振的精度是否符合你的要求,或者你可以把產(chǎn)品發(fā)送回我公司分析。如果晶振頻率和負(fù)載電容跟要求相對(duì)應(yīng)的話,我們將需要進(jìn)行等效電路測(cè)試。比如等效電路測(cè)試如下:進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振
負(fù)載電容:如果振蕩電路中負(fù)載電容的不同,可能導(dǎo)致3225體積貼片晶振振蕩頻率與設(shè)計(jì)頻率之間產(chǎn)生偏差,如下圖所示。電路中的負(fù)載電容的近似表達(dá)式 CL≒CG × CD / (CG+CD) + CS。其中CS表示電路的雜散電容。QANTEK晶振,貼片晶振,QC32晶振,無源進(jìn)口晶振
測(cè)試條件:(1)電源電壓:超過 150µs,直到電壓級(jí)別從 0 %達(dá)到 90 % 。電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。(2)其他:輸入電容低于 15 pF5倍頻率范圍或更多測(cè)量頻率。鉛探頭應(yīng)盡可能短。測(cè)量四腳貼片石英晶振頻率時(shí),探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過振蕩器的放大器時(shí),可同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。(3)其他:CL包含探頭電容。應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。使用微型插槽,以觀察波形。(請(qǐng)勿使用該探頭的長接地線).
振蕩頻率測(cè)量:必須盡可能地測(cè)量安裝在小型無源貼片晶振電路上的的振蕩頻率的真實(shí)值,使用正確的方法。在振蕩頻率的測(cè)量中,通常使用探頭和頻率計(jì)數(shù)器。然而,我們的目標(biāo)是通過限制測(cè)量工具對(duì)振蕩電路本身的影響來測(cè)量。有三種頻率測(cè)量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最精確的測(cè)量方法是通過使用任何能夠精確測(cè)量的頻譜分析儀來實(shí)現(xiàn)的。
接觸振蕩電路:探針不影響圖2,因?yàn)榫彌_器的輸出是通過進(jìn)口3225晶振輸入振蕩電路的輸出來測(cè)量的。逆變器進(jìn)入下一階段。探針不影響圖3,因?yàn)樵贗C上測(cè)量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過小尺寸測(cè)量來最小化探針的效果。輸出點(diǎn)之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。然而,應(yīng)該注意到,使用這種方法輸出波形較小,測(cè)量不能依賴于即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計(jì)數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測(cè)量。進(jìn)口無源諧振器,小體積3225晶振,QC32晶振
公司名:深圳市金洛鑫電子有限公司
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JLX-PD
金洛鑫產(chǎn)品系列
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