NDK晶振,貼片晶振,NX5032GB晶振,NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振
頻率:12.000MHz
尺寸:5.0*3.2*1.2mm
NDK晶振集團將確保其產品及相關設施滿足甚至超出國家的、州立的以及地方環保機構的相關法規規定及其他要求,同時該公司盡可能的參與并協助政府機關和其他官方組織從事的環保活動。 在地方對各項設施的管理責任中,確保滿足方針的目標指標,同時在各種經營與生產活動中完全遵守并符合現行所有標準規范的要求。有效利用資源,防止環境污染,減少和妥善處理廢物,包括再利用和再循環。NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振,低頻5032貼片晶體,NX5032GB晶振
對我們的石英晶振進行檢驗,同時告知我們的員工顧客以及公眾,如何安全的使用,如何使用對環境影響較小,幫助我們的雇員合同方商業伙伴服務提供上理解他們的行為如何影響著環境。公司的各項能源、資源消耗指標和排放指標達到國內領先、國際先進水平。NDK晶振集團實施創新戰略,提高自主創新能力,確保公司可持續發展。實施節約戰略,提高建設節約環保型企業能力,確保實現節能環保規劃目標。
NDK晶振,貼片晶振,NX5032GB晶振,NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振.貼片石英晶體,體積小,焊接可采用自動貼片系統,產品本身小型,表面貼片晶振,特別適用于有小型化要求的電子數碼產品市場領域,因產品小型,薄型優勢,耐環境特性,包括耐高溫,耐沖擊性等,在移動通信領域得到了廣泛的應用,晶振產品本身可發揮優良的電氣特性,滿足無鉛焊接的高溫回流溫度曲線要求.
NDK石英晶振真空退火技術:晶振高真空退火處理是消除貼片晶振在加工過程中產生的應力及輕微表面缺陷。在PLC控制程序中輸入已設計好的溫度曲線,使真空室溫度跟隨設定曲線對晶體組件進行退火,石英晶振通過合理的真空退火技術可提高晶振主要參數的穩定性,以及提高石英晶振的年老化特性。NDK晶振,貼片晶振,NX5032GB晶振,NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振
NDK晶振 |
單位 |
NX5032GB晶振 |
石英晶振基本條件 |
標準頻率 |
f_nom |
12.000MHz~55.000MHz |
標準頻率 |
儲存溫度 |
T_stg |
-40°C~+70°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-10°C~+85°C |
標準溫度 |
激勵功率 |
DL |
50μW Max. |
推薦:50μW~500μW |
頻率公差 |
f_— l |
±20 × 10-6 (標準) |
+25°C 對于超出標準的規格說明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
±30 × 10-6/-10°C~+70°C |
超出標準的規格請聯系我們. |
負載電容 |
CL |
8pF |
不同負載電容要求,請聯系我們. |
串聯電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-10°C~+60°C, DL =500μW |
頻率老化 |
f_age |
±5× 10-6 / year Max. |
+25°C,第一年 |
清洗
關于一般清洗液的使用以及超聲波清洗沒有問題,但這僅僅是對單個石英晶體產品進行試驗所得的結果,因此請根據實際使用狀態進行確認。由于32.768K晶振的頻率范圍和超聲波清洗機的清洗頻率很近,容易受到共振破壞,因此請盡可能避免超聲波清洗。若要進行超聲波清洗,必須事先根據實際使用狀態進行確認。NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振,低頻5032貼片晶體,NX5032GB晶振
撞擊
雖然進口晶振產品在設計階段已經考慮到其耐撞擊性,但如果掉到地板上或者受到過度的撞擊,以防萬一還是要檢查特性后再使用。
裝載
<SMD產品>
SMD晶體產品支持自動貼裝,但還是請預先基于所使用的搭載機實施搭載測試,確認其對特性沒有影響。 在切斷工序等會導致基板發生翹曲的工序中,請注意避免翹曲影響到產品的特性以及軟焊。 基于超聲波焊接的貼裝以及加工會使得SMD晶體產品(諧振器、振蕩器、濾波器)內部傳播過大的振動,有可能導致特性老化以及引起不振蕩,因此不推薦使 用。
<引線類型產品>
當引線彎折、成型以及貼裝到印制電路板時,請注意避免對基座玻璃部分施加壓力。否則有可能導致玻璃出現裂痕,從而引起性能劣化。NDK晶振,貼片晶振,NX5032GB晶振,NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振
保管
保管在高溫多濕的場所可能會導致端子軟焊性的老化。請在沒有直射陽光,不發生結露的場所保管。
振蕩電路的檢查方法
振蕩頻率測量必須盡可能地測量安裝在電路上的5032兩腳晶振的振蕩頻率的真實值,使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中,通常使用探頭和頻率計數器。然而,我們的目標是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。
有三種頻率測量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現的。NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振,低頻5032貼片晶體,NX5032GB晶振
接觸振蕩電路。
探針不影響圖2,因為緩沖器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。
逆變器進入下一階段。
探針不影響圖3,因為在IC上測量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。
圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。
輸出點之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。
然而,應該注意到,使用這種方法5032無源晶體輸出波形較小,測量不能依賴于
即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計數器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測量。
此外,5032石英水晶振動子振蕩頻率與測量點不同。
1、測量緩沖輸出
2、振蕩級輸出測量
三.通過電容器測量振蕩級輸出
圖5示出以上1-3個測量點和所測量的
除緩沖器輸出外,振蕩頻率較低。NDK晶振,貼片晶振,NX5032GB晶振,NX5032GB-12MHZ-STD-CSK-5晶振
公司名:深圳市金洛鑫電子有限公司
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