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Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振

頻率：13.500MHz~170.000MHz

尺寸：3.2*2.5*1.0mm

有源晶振,是只晶體本身起振需要外部電壓供應,起振后可直接驅動CMOS 集成電路,產品本身已實現與薄型IC(TSSOP封裝,TVSOP封裝)同樣的1mm厚度,斷開時的消費電流是15 µA以下,編帶包裝方式可對應自動搭載及IR回流焊接(無鉛對應).

訂購熱線：0755-27837162

Pletronics晶振公司成立于1979年，有30多年的工程和制造經驗，一流質量的聲譽——一流的oem和CEMs供應商的首選供應商。快速響應——對工程和銷售咨詢的當日響應,亞洲、歐洲和北美的制造業,國際工程、物流和銷售支持,設計創新的記錄，有競爭力的價格和更短的交貨期。我們的目標是能夠在切割貼片晶振上制造超過300MHz的基本模式,開始制造PECL和LVDS振蕩器。
Pletronics晶振致力于環境保護,包括預防污染.在石英晶體振蕩器,有源晶振產品的規劃到制造、運行維修等整個過程中,努力提供環保型的產品和服務.在業務活動中,努力節約資源并節省能源,致力于減少廢棄物和再生資源的回收利用.在積極公開有關環境的信息的同時,通過支持環保活動,廣泛地為社會作貢獻.致力于保護生物多樣性和可持續利用.3225差分有源晶振,LVDS石英晶體振蕩器,LV44F晶振

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Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振.3.2*2.5mm六腳金屬面SMD型石英晶體振蕩器，采用LVDS差分輸出方式，標準電源電壓是+2.5V，編帶包裝方式,可對應自動高速貼片機自動焊接,及IR回流焊接（無鉛對應）,為無鉛產品,超小型,質地輕.已實現低相位噪聲,低電壓,低消費電流和高穩定度,產品被廣泛應用到集成電路,程控交換系統,無線發射基站.
Pletronics晶振高精密點膠技術：石英晶振晶片膠點的位置、大小：位置準確度以及膠點大小一致性，通過圖像識別及高精密度數字定位系統的運用、使石英晶振晶片的點膠的精度在±0.02mm之內。將被上銀電極的晶片裝在彈簧支架上，點上導電膠，并高溫固化，通過彈簧即可引出電信號。

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Pletronics晶振	標示	LV44F晶振	晶振基本信息對照表
標準范圍	f0	13.500MHz~170.000MHz
電源電圧	Vcc	＋3.3V
輸出電流	Icc	3.5 mA max.	Vcc=3.3V
頻率負載	L_CMOS	15pF	LVDS出力
標準頻率偏差	f_tol	±20、±25、±50×10-6 max.	初期偏差、周波數溫度特性、電源、負荷変動特性、経時変化(1年、＋25℃時)
輸出電壓	V	VOH:Vcc×90% min.VOL:Vcc×10% max.
對稱	SYM	40%～60%	50% Vcc
標準時間	tr/tf	12 ns max.(1.8～80MHz)	10%Vcc～90%、L_CMOS=15pF

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lv44fg 3.3v 3225 LVDS

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抗沖擊
有源貼片晶振可能會在某些條件下受到損壞。例如從桌上跌落或在貼裝過程中受到沖擊。如果產品已受過沖擊請勿使用。
輻射
暴露于輻射環境會導致石英晶體性能受到損害，因此應避免照射。3225差分有源晶振,LVDS石英晶體振蕩器,LV44F晶振
化學制劑 / pH值環境
請勿在PH值范圍可能導致腐蝕或溶解進口石英晶體振蕩器或包裝材料的環境下使用或儲藏這些產品。
粘合劑
請勿使用可能導致SMD晶振所用的封裝材料，終端，組件，玻璃材料以及氣相沉積材料等受到腐蝕的膠粘劑。（比如，氯基膠粘劑可能腐蝕一個晶體單元的金屬“蓋”，從而破壞密封質量，降低性能。）
鹵化合物
請勿在鹵素氣體環境下使用無源晶振。即使少量的鹵素氣體，比如在空氣中的氯氣內或封裝所用金屬部件內，都可能產生腐蝕。同時，請勿使用任何會釋放出鹵素氣體的樹脂。Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振
靜電
過高的靜電可能會損壞有源晶體，請注意抗靜電條件。請為容器和封裝材料選擇導電材料。在處理的時候，請使用電焊槍和無高電壓泄漏的測量電路，并進行接地操作。

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振蕩電路的檢查方法
振蕩頻率測量
必須盡可能地測量安裝在電路上的貼片有源晶振的振蕩頻率的真實值，
使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中，通常使用探頭和頻率計數器。然而,
我們的目標是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。3225差分有源晶振,LVDS石英晶體振蕩器,LV44F晶振
有三種頻率測量模式，如下面的圖所示（圖）。2, 3和4）。最
精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現的。
接觸振蕩電路。
探針不影響圖2，因為緩沖器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。
逆變器進入下一階段。
探針不影響圖3，因為在IC上測量緩沖器輸出（1/1、1/2等）。
圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況，由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。
輸出點之間的電容（3 pF以下XTAL終端IC）和探針。
然而，應該注意到，使用這種方法3225有源晶體振蕩器輸出波形較小，測量不能依賴于
即使示波器能檢查振蕩波形，頻率計數器的靈敏度也可以。在這種情況下，使用放大器來測量。Pletronics晶振,3225貼片振蕩器,LV44F晶振