ECS晶體,貼片晶振,ECX-34Q晶振,石英晶體諧振器
頻率:32.768KHZ
尺寸:3.2*1.5mm
ECS,Inc.為了實現這一愿景,ECS,Inc.遵循我們的愿景,ECS,Inc.堅持創新為中心的企業文化,旨在促進和發展,最大限度地提高了我們滿足不斷變化的全球電子市場需求的能力各無源晶振工廠合作伙伴的創造力。總部設在美國堪薩斯州的Olathe,ECS,Inc.我們有這個領先的解決方案。建立和維護世界上最先進的可靠和具有成本效益的產品。ECS,Inc.在股東,技術人員及其全球支持團隊中的份額不斷增長。經驗豐富的高級管理團隊,經驗超過150年.KHZ石英諧振器,3215mm音叉SMD表晶,ECX-34Q晶振
ECS Inc.由一批優秀的技術和工程人員以及全球經驗豐富的合作伙伴提供支持,我們的目標和使命是我們致力于提供最佳的Total在這個或任何行業的客戶體驗。公司的頂尖人才和技術,配合創新的產品開發理念,可能在設計需要精確計時的復雜應用程序時解決復雜的客戶問題。這些制造地點在ECS石英晶振公司的質量保證標準中占有最大份額,這些制造地點和大多數韓國。嚴格的質量管理認證從國際標準化組織ISO 9001/2008,ISOTS 16949,ISO 14001和符合AECQ標準的產品開始.
ECS晶體,貼片晶振,ECX-34Q晶振,石英晶體諧振器,32.768K時鐘晶體具有小型,薄型,輕型的貼片晶振表面音叉型晶體諧振器,產品具有優良的耐熱性,耐環境特性,可發揮晶振優良的電氣特性,符合RoHS規定,滿足無鉛焊接的高溫回流溫度曲線要求,金屬外殼的封裝使得產品在封裝時能發揮比陶瓷諧振器外殼更好的耐沖擊性.
石英晶振產品電極的設計:石英晶振產品的電極對于石英晶體元器件來講作用是1.改變頻率;2.往外界引出電極;3.改變電阻;4.抑制雜波。第1、2、3項相對簡單,第4項的設計很關鍵,電極的形狀、尺寸、厚度以及電極的種類(如金、銀等)都會導致第4項的變化。特別是隨著晶振的晶片尺寸的縮小對于晶片電極設計的形狀及尺寸和精度上都有更高的要求---公差大小、位置的一致性等對晶振產品的影響的程度增大,故對電極的設計提出了更精準的要求。KHZ石英諧振器,3215mm音叉SMD表晶,ECX-34Q晶振
單位 |
ECX-34Q晶振 |
石英晶振基本條件 |
|
標準頻率 |
f_nom |
32.768KHZ |
標準頻率 |
儲存溫度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-40°C~+125°C |
標準溫度 |
激勵功率 |
DL |
0.1~0.5μW Max. |
推薦:0.1~0.5μW |
頻率公差 |
f_— l |
±20 × 10-6 (標準) |
+25°C 對于超出標準的規格說明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
±50× 10-6/-20°C~+70°C |
超出標準的規格請聯系我們. |
負載電容 |
CL |
12.5pF |
不同負載要求,請聯系我們. |
串聯電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-20°C~+70°C, DL = 100μW |
頻率老化 |
f_age |
±3× 10-6 / year Max. |
+25°C,第一年 |
耐焊性:將晶振加熱包裝材料至+150°C以上會破壞產品特性或損害產品。如需在+150°C以上焊接石英晶振,建議使用SMD晶振產品。在下列回流條件下,對石英晶振產品甚至SMD貼片晶振使用更高溫度,會破壞晶振特性。建議使用下列配置情況的回流條件。安裝這些貼片晶振之前,應檢查焊接溫度和時間。同時,在安裝條件更改的情況下,請再次進行檢查。如果需要焊接的晶振產品在下列配置條件下進行焊接,請聯系我們以獲取耐熱的相關信息。ECS晶體,貼片晶振,ECX-34Q晶振,石英晶體諧振器
所有石英晶體振蕩器和實時時鐘模塊都以IC形式提供。噪音:在電源或輸入端上施加執行級別(過高)的不相干(外部的)噪音,可能導致會引發功能失常或擊穿的閉門或雜散現象。電源線路:電源的線路阻抗應盡可能低。輸出負載:建議將無源石英晶振輸出負載安裝在盡可能靠近振蕩器的地方(在20 mm范圍之間)。
未用輸入終端的處理:未用針腳可能會引起噪聲響應,從而導致非正常工作。同時,當P通道和N通道都處于打開時,電源功率消耗也會增加;因此,請將未用輸入終端連接到VCC 或GND。熱影響:重復的溫度巨大變化可能會降低受損害的陶瓷面石英晶振產品特性,并導致塑料封裝里的線路擊穿。必須避免這種情況。安裝方向:振蕩器的不正確安裝會導致故障以及崩潰,因此安裝時,請檢查安裝方向是否正確。通電:不建議從中間電位和/或極快速通電,否則會導致無法產生振蕩和/或非正常工作。KHZ石英諧振器,3215mm音叉SMD表晶,ECX-34Q晶振
負載電容:如果振蕩電路中負載電容的不同,可能導致32.768KHZ晶振振蕩頻率與設計頻率之間產生偏差,如下圖所示。電路中的負載電容的近似表達式 CL≒CG × CD / (CG+CD) + CS。其中CS表示電路的雜散電容。ECS晶體,貼片晶振,ECX-34Q晶振,石英晶體諧振器
測試條件:(1)電源電壓:超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達到 90 % 。電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。(2)其他:輸入電容低于 15 pF5倍頻率范圍或更多測量頻率。鉛探頭應盡可能短。測量32.768K無源晶振頻率時,探頭阻抗將高于 1MΩ。當波形經過振蕩器的放大器時,可同時進行測量。(3)其他:CL包含探頭電容。應使用帶有小的內部阻抗的電表。使用微型插槽,以觀察波形。(請勿使用該探頭的長接地線).
振蕩頻率測量:必須盡可能地測量安裝在電路上的諧振器的振蕩頻率的真實值,使用正確的方法。在3215貼片晶振振蕩頻率的測量中,通常使用探頭和頻率計數器。然而,我們的目標是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。有三種頻率測量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現的。
接觸振蕩電路:探針不影響圖2,因為緩沖器的輸出是通過32.768K石英貼片晶振輸入振蕩電路的輸出來測量的。逆變器進入下一階段。探針不影響圖3,因為在IC上測量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。輸出點之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。然而,應該注意到,使用這種方法輸出波形較小,測量不能依賴于即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計數器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測量。
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