TXC晶振,貼片晶振,9C晶振,石英貼片晶振
頻率:3.2~90MHZ
尺寸:12.7*4.8*3.8mm
臺灣晶技晶振為一專業之頻率組件與感測組件供貨商,自1983年成立以來,始終致力于石英晶體相關諧振器(Crystal)、振蕩器(Oscillator) 等頻率組件之研發、設計、生產與銷售,并因應市場應用與需求,透過自主核心技術,成功開發出各式感測組件(Sensor),產品可廣泛使用于行動通訊、穿戴式裝置、物聯網、服務器儲存設備、車用、電信、醫療…等市場。多年來,我們始終以提升客戶價值為目標,是以無論在價格、質量、交期、服務等方面,均盡力盡心于超越客戶的期待,并以能成為客戶最佳的策略合作伙伴自我敦促。
經過三十年的努力,臺灣晶技總公司而外,另設有49SMD晶振生產據點:總公司:臺北市北投區中央南路二段16號4樓,平鎮廠:桃園市平鎮區平鎮工業區工業六路4號,寧波廠:寧波市北侖區黃山西路189號,重慶廠:重慶市九龍坡區鳳笙路22號,TXC晶振目前專業從事這些類別的產品:晶體(32.768kHz,基本兆赫,高精度的兆赫,汽車級)。進口石英49S晶振,高性能金屬貼片晶振,9C晶振
TXC晶振,貼片晶振,9C晶振,石英貼片晶振,目前國外進口晶振品牌中大多數的品牌都在慢慢減少生產49/SSMD系列產品了,因49/S系列體積大,很多電子產品接受小,而且生產過程中使用的材料也要比小型的貼片晶振多,況且現在小尺寸的貼片晶振產量遠遠大于49/S系列,所以生產這種的大體積成本就更高了。普通貼片石英晶振外觀使用金屬材料封裝的,具有高穩定性,高可靠性的石英晶體諧振器,晶振外觀本身使用金屬封裝,充分的密封性能,可確保其高可靠性,采用編帶包裝,外包裝采用朔膠盤,可在自動貼片機上對應自動貼裝等優勢。
貼片晶振晶片邊緣處理技術:進口晶振是晶片通過滾筒倒邊,主要是為了去除石英晶振晶片的邊緣效應,在實際操作中機器運動方式設計、滾筒的曲率半徑、滾筒的長短、使用的研磨砂的型號、多少、填充物種類及多少等各項設計必須合理,有一項不完善都會使晶振晶片的邊緣效應不能去除,而石英晶振晶片的諧振電阻過大,用在電路中Q值過小,從而電路不能振動或振動了不穩定。
TXC晶振 |
單位 |
9C晶振 |
石英晶振基本條件 |
標準頻率 |
f_nom |
3.2MHz~90MHz |
標準頻率 |
儲存溫度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-40°C~+85°C |
標準溫度 |
激勵功率 |
DL |
100μW Max. |
推薦:1μW~50μW |
頻率公差 |
f_— l |
±30×10-6 (標準) |
+25°C 對于超出標準的規格說明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
±30×10-6/-20°C~+70°C |
超出標準的規格請聯系我們. |
負載電容 |
CL |
18pF |
不同負載電容要求,請聯系我們. |
串聯電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-20°C~ +70°C, DL = 50μW |
頻率老化 |
f_age |
±3×10-6/ year Max. |
+25°C,第一年 |
一般來說,微處理器的振蕩電路由考畢茲電路顯示派生如下:鎘和CG是外部負載電容,其中已建成的芯片組。 (請參閱芯片組的規格)Rf為具有200KΩ?1MΩ反饋電阻。它的內置芯片一般設置。Rd為限流電阻470Ω與1KΩ?。這個阻力是沒有必要的公共電路,但僅用于具有高電源電路。一個穩定的振蕩電路需要的負電阻,其值應是石英晶體諧振器阻力的至少五倍。它可寫為|-R|>5的Rr。 TXC晶振,貼片晶振,9C晶振,石英貼片晶振
例如,為了獲得穩定的振蕩電路中,IC的負電阻的值必須小于?200Ω時的晶振電阻值是40Ω。負阻“的標準來評估一個振蕩電路的質量。在某些情況下,例如老化,熱變化,電壓變化,以及等等,電路可能不會產生振蕩的“Q”值是低的。因此,這是非常重要的衡量負電阻(-R)以下說明:線路連接的電阻(R)與石英晶振串聯(2)從起點到振蕩的停止點調整R的值。(3)振蕩期間測量R的值。(4)你將能夠獲得負電阻的值,|•R|= R +的Rr,和RR =晶振的阻力。進口石英49S晶振,高性能金屬貼片晶振,9C晶振
附:所連接的電路的雜散電容,可能會影響測定值。如果晶振的參數是正常的,但它不工作穩步晶體振蕩器電路中,我們將不得不找出IC的電阻值是否過低驅動電路。如果是這樣的話,我們有三種方法來改善這樣的情況:降低外部電容(Cd和CG)的值,并采用其他晶振具有較低負載電容(CL)。采用具有較低電阻(RR)的晶振。使用光盤和CG的不等價的設計。我們可以增加鎘(XOUT)的負載電容和降低CG(辛)的負載電容以提高從辛波形幅度將在其后端電路中使用的輸出。
振蕩電路的檢查方法:振蕩頻率測量必須盡可能地測量安裝在電路上的49S貼片晶振的振蕩頻率的真實值,使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中,通常使用探頭和頻率計數器。然而,我們的目標是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。有三種頻率測量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現的。 TXC晶振,貼片晶振,9C晶振,石英貼片晶振
接觸振蕩電路。探針不影響圖2,因為緩沖器的輸出是通過輸入貼片石英晶振振蕩電路的輸出來測量的。逆變器進入下一階段。探針不影響圖3,因為在IC上測量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。輸出點之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。然而,應該注意到,使用這種方法輸出波形較小,測量不能依賴于即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計數器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測量。
此外,振蕩頻率與測量點不同。1。測量緩沖輸出2。振蕩級輸出進口貼片晶振測量三.通過高精度石英晶振電容器測量振蕩級輸出,圖5示出以上1-3個測量點和所測量的,除緩沖器輸出外,振蕩頻率較低。進口石英49S晶振,高性能金屬貼片晶振,9C晶振
振蕩補償:除非在振蕩電路中石英貼片晶振提供足夠的負極電阻,否則會增加振蕩啟動時間,或不發生振蕩。為避免該情況發生,請在電路設計時提供足夠的負極電阻。
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