CTS公司成立于1896,是全球設(shè)計和制造各種電子元器件、傳感器和執(zhí)行器的領(lǐng)導(dǎo)者。主要滿足原始無源晶振設(shè)備制造商(OEM)的需求,CTS以其超過100年的創(chuàng)新產(chǎn)品和卓越工程而自豪。CTS產(chǎn)品的生產(chǎn)采用最先進(jìn)的技術(shù),由一個高素質(zhì)和敬業(yè)的員工驅(qū)動。在2000年底和2010年初,CTS完成了一系列收購,擴(kuò)展到關(guān)鍵市場,推動增長。CTS的目標(biāo)是在技術(shù)的最前沿,提供創(chuàng)新的傳感,連接和運(yùn)動解決方案,以創(chuàng)造和推進(jìn)世界各地的產(chǎn)品和服務(wù)。
CTS公司成立于1896,是航空航天、通信、國防、工業(yè)、信息技術(shù)、醫(yī)療和運(yùn)輸市場的OEM、傳感器和電子元器件的主要設(shè)計者和制造商。公司在北美洲、亞洲和歐洲設(shè)有12個石英晶振生產(chǎn)基地,專注于為全球的工業(yè)伙伴提供先進(jìn)的技術(shù)、卓越的客戶服務(wù)和卓越的價值。CTS的目標(biāo)是在技術(shù)的最前沿,提供創(chuàng)新的傳感,連接和運(yùn)動解決方案,以創(chuàng)造和推進(jìn)世界各地的產(chǎn)品和服務(wù)。
CTS晶振,貼片晶振,TF32晶振,無源貼片晶振,智能手機(jī)晶振,產(chǎn)品具有高精度超小型的表面貼片型石英晶體振蕩器,最適用于移動通信終端的基準(zhǔn)時鐘等移動通信領(lǐng)域.比如智能手機(jī),無線通信,衛(wèi)星導(dǎo)航,平臺基站等較高端的數(shù)碼產(chǎn)品,晶振本身小型,薄型具備各類移動通信的基準(zhǔn)時鐘源用頻率,貼片晶振具有優(yōu)良的電氣特性,耐環(huán)境性能適用于移動通信領(lǐng)域,滿足無鉛焊接的高溫回流溫度曲線要求.
石英晶振多層、多金屬的濺射鍍膜技術(shù):是目前研發(fā)及生產(chǎn)高精度、高穩(wěn)定性石英晶體諧振器元器件——石英晶振必須攻克的關(guān)鍵技術(shù)之一。石英晶振該選用何鍍材、鍍幾種材料、幾種鍍材的鍍膜順序,鍍膜的工藝方法(如各鍍材的功率設(shè)計等)。使用此鍍膜方法使鍍膜后的晶振附著力增強(qiáng),貼片晶振頻率更加集中,能控制在最小ppm之內(nèi)。
CTS晶振 |
單位 |
TF16晶振 |
石英晶振基本條件 |
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
f_nom |
32.768KHZ |
標(biāo)準(zhǔn)頻率 |
儲存溫度 |
T_stg |
-55°C~+125°C |
裸存 |
工作溫度 |
T_use |
-40°C~+85°C |
標(biāo)準(zhǔn)溫度 |
激勵功率 |
DL |
0.1~0.5μW Max. |
推薦:0.1~0.5μW |
頻率公差 |
f_— l |
±10,20× 10-6 |
+25°C對于超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格說明, |
頻率溫度特征 |
f_tem |
±15~±100× 10-6/-30°C~+85°C |
超出標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格請聯(lián)系我們. |
負(fù)載電容 |
CL |
6,7,9,12.5PF |
不同負(fù)載電容要求,請聯(lián)系我們. |
串聯(lián)電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C~+85°C,DL = 100μW |
頻率老化 |
f_age |
±3× 10-6/year Max. |
+25°C,第一年 |
(3)請勿清洗開啟式陶瓷面晶振產(chǎn)品(4)對于可清洗晶振產(chǎn)品,應(yīng)避免使用可能對產(chǎn)品產(chǎn)生負(fù)面影響的清洗劑或溶劑等。(5)焊料助焊劑的殘留會吸收水分并凝固。這會引起諸如位移等其它現(xiàn)象。這將會負(fù)面影響產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量。請清理殘余的助焊劑并烘干PCB。
使用環(huán)境:(溫度和濕度)請在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)使用KHZ石英晶振。這個溫度涉及本體的和季節(jié)變化的溫度。在高濕環(huán)境下,會由于凝露引起故障。請避免凝露的產(chǎn)生。晶振/石英晶體諧振器,激勵功率:在晶振上施加過多驅(qū)動力,會導(dǎo)致產(chǎn)品特性受到損害或破壞。電路設(shè)計必須能夠維持適當(dāng)?shù)募罟β?
振蕩頻率測量:必須盡可能地測量安裝在電路上的3215石英晶體諧振器的振蕩頻率的真實值,使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中,通常使用探頭和頻率計數(shù)器。然而,我們的目標(biāo)是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。有三種頻率測量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現(xiàn)的。CTS晶振,貼片晶振,TF32晶振,無源貼片晶振
接觸振蕩電路:探針不影響圖2,因為緩沖器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。逆變器進(jìn)入下一階段。探針不影響圖3,因為在IC上測量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過3215石英水晶振動子測量來最小化探針的效果。輸出點之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。然而,應(yīng)該注意到,使用這種方法輸出波形較小,測量不能依賴于即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測量。
此外,振蕩頻率與測量點不同。1。測量緩沖輸出2。振蕩級輸出測量三.通過32.768K貼片晶體電容器測量振蕩級輸出圖5示出以上1-3個測量點和所測量的除緩沖器輸出外,振蕩頻率較低。
振蕩補(bǔ)償:除非在振蕩電路中提供足夠的負(fù)極電阻,否則會增加3215貼片晶振振蕩啟動時間,或不發(fā)生振蕩。為避免該情況發(fā)生,請在電路設(shè)計時提供足夠的負(fù)極電阻。